Тел.: 8 (495) 788-55-23

Е-mail: info@novatest.ru

 


Поиск по сайту:
Каталог
Фильтр по производителям

Каталог > Лазерные доплеровские виброметры и велосиметры, микроанализаторы МЭМС, оптические профилометры > Бесконтактные измерительные системы компании Polytec > Оптические профилометры

Оптические профилометры

Измерение плоскости и топография поверхностей с нанометрическим разрешением.

 
 
Высокоточные топографические измерительные системы Polytec серии TMS TopMap - это современные и супертехнологичные интерферометры белого света для бесконтактного измерения профиля поверхности.
 
Имея широкий диапазон сканирования по высоте и нанометрическое разрешение, они являются идеальным инструментом для количественного определения гладкости / шероховатости поверхности, перепадов высот и параллельности протяженных поверхностей и конструкций, включая мягкие материалы. 
 
Измерение свойств поверхности является необходимым во многих отраслях промышленности. Компоненты и конструкции размерностью от долей миллиметров до нескольких сантиметров можно найти в производстве микроэлектроники и систем хранения данных,  микромеханизмов и микродатчиков, в разработке и производстве автомобильных компонентов и микроспутников.
В данном разделе вы найдете информацию о различных профилометрах белого света серии TMS TopMap, находящих свое применение как в производственном контроле качества, так и в исследовательских задачах. Дополнительно, мы включили разделы где рассказывается об общих принципах работы профилометров и их прикладном применении.
 

 

 

 

.


Полезные ссылки
Новости компании Лицензии Библиотека О компании Каталог Решения

Copyright © Новатест, 2006. Все права защищены